關于手持式X熒光光譜儀基體效應我們做如下表述：
首先，我們要知道什么是手持式X熒光光譜儀的測量基體，那在實際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統稱為基體。
手持式X熒光光譜儀
由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的，一是指元素的變化，二是指含量的變化，它直接影響待測元素特征X射線強度的測量。
也就是說，待測元素含量相同，由于其基體成份不同測量到的待測元素特征X射線強度也是不同的，這就是基體效應。
基體效應是X射線熒光定量分析的主要誤差來源之一。
基體效應是個無法避免的客觀事實，其物理實質是激發(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發源的射線和待測元素特征X射線產生光電效應的幾率比輕元素的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發源發射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數比輕元素大得多;輕元素對激發源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大。